RTP-80 + TS7
분석Parameters
ISO 4287에 의거 P, W, R Profile관련한 그래픽 및 각종 Paraters 분석가능(ISO,JIS,DIN)
ISO 12085에의거 P, W,R Profile관련한 그래픽 및 각종Parameters 분석 가능 (Motif parameter)
검출기, 최소 단위, 범위
Inductive type(with cable & plug)검출기 사용하며
최소 단위는 0.001㎛이고, 범위는 +/- 500 ㎛
metric/inch가능
컷 오프 및 평가 갯수 선택
측정할 제품의 정밀도에 따라 컷오프 값을 선택 함
평가 개수는1~19개까지 선택가능(cut off :0.25/0.8/2.5)
(max LT : 16 mm)(측정 길이 조정 가능)
응용 메커니즘
검출기를 90° 회전하여 사용 가능하므로 양쪽 측면
간섭이 있는 제품(예:크랑크,캠등)의 측정에
별도의 고민 없이 표준 검출기사용 측정 가능 함
확장 및 표시장치
깊은 내경측 정 가능 하며(100 mm 연장구 연결 가능)
최대200mm(내경 검사는 스탠드사용)
TFT 칼라 LCD 사용 (5.7”), 터치 스크린
정밀도 및 출력
DIN 4772: class 1
출력은 P-R-W profile과 관련 된그래픽과parameters를 내장된 Thermal 프린트로 출력
OPTION소프트 웨어 사용하여 다양한 분석 가능
