RTP-80 + TL90
분석Parameters
ISO 4287에 의거 P, W, R Profile관련한 그래픽 및 각종 Paraters 분석가능(ISO,JIS,DIN)
ISO 12085에의거 P, W,R Profile관련한 그래픽 및 각종Parameters 분석 가능 (Motif parameter)
검출기, 최소 단위, 범위
Inductive type(with plug )의 검출기를 사용하며
최소단위는 0.001㎛ 이고 범위는 +/-500 ㎛
구동부 진직도 0.2㎛, metric/inch가능
컷 오프 및 평가 갯수 선택
측정할 제품의 가공 정밀도에 따라 컷오프 값을 선택 함
평가 개수는1~19개까지 선택가능(cut off :0.25/0.8/2.5)
(max LT : 50 mm)(측정 길이 조정 가능)
응용 메커니즘
검출기가 90° 회전 사용 가능 하므로 양쪽 측면
간섭이 있는 제품(예:크랑크,캠등)의 측정에
별도의 고민없이 표준 검출기사용 측정 가능 함
확장 및 표시장치
깊은 내경 측정 가능 하며(100 mm 연장구 연결 가능)
LV- UNIT장착된 스탠드의 탁월한 응용(Range:110mm)
TFT 칼라 LCD 사용 (5.7”), 터치 스크린
정밀도 및 출력
DIN 4772: class 1 (5%)
출력은 P-R-W profile과 관련된 그래픽과 parameters를 내장된 Thermal 프린터 로 출력
OPTION 소프트 웨어 사용하여 다양한 분석 가능)
